氣膜孔掃描測量系統(tǒng)招標公告
項目所在地區(qū)：北京市海淀區(qū)
1.招標條件
本招標項目氣膜孔掃描測量系統(tǒng)（項目名稱）（項目編號：0730-254211010026/01）招標人為中國航發(fā)北京航空材料研究院，招標項目資金已落實。本項目已具備招標條件，現(xiàn)對氣膜孔掃描測量系統(tǒng)（設(shè)備名稱）采購進行國際公開招標。
2.項目概況與招標范圍
2.1 項目名稱：氣膜孔掃描測量系統(tǒng)。
2.2數(shù)量：壹臺。
2.3招標文件簡要技術(shù)規(guī)格：
關(guān)鍵技術(shù)指標：
（1）工作行程：掃描系統(tǒng)的空間測量范圍X≥1600mm，Y≥2400mm，Z≥1200mm
測量模式：接觸式和非接觸式；測頭更換系統(tǒng)：全自動更換測頭。
（2）旋轉(zhuǎn)軸技術(shù)指標：A軸旋轉(zhuǎn)范圍 ≥-5°～120°、B 軸旋轉(zhuǎn)范圍 ≥360°
（3）旋轉(zhuǎn)軸具備沿曲面表面法向自由轉(zhuǎn)角功能，轉(zhuǎn)角的步距角≤0.01°
（4）掃描系統(tǒng)的空間最大三維移動速度≥520mm/s
（5）工作臺面最大承重量：3500kg
（6）接觸式掃描系統(tǒng)測量誤差（MPEE）≤1.9+L/350 μm
（7）接觸式掃描最大允許探測誤差（MPEP）≤ 1.9μm
（8）接觸式掃描誤差（MPETHP）≤2.3μm, 掃描時間≤9s
（9）掃描系統(tǒng)的空間最大三維掃描速度≥500mm/s
（10）接觸式掃描實際采點速率≥4000點/秒
（11）接觸式掃描測頭最大承載測桿長度500mm
（12）接觸式掃描系統(tǒng)的測量須符合ISO10360-2標準
（13）非接觸式掃描系統(tǒng)設(shè)備不移動時非接觸式光學(xué)系統(tǒng)探測誤差 PFv2d≤ 3μm
（14）非接觸式掃描系統(tǒng)設(shè)備移動時非接觸式光學(xué)探測誤差PF2d≤ 5μm
（15）非接觸光學(xué)系統(tǒng)的長度測量誤差MPE≤（5.3+L/200）μm
（16）非接觸光學(xué)系統(tǒng)單次測量范圍≥12mm×10mm；測量距離≥120mm；視野景深≥5mm
（17）非接觸光學(xué)系統(tǒng)測量特征范圍≥0.4mm，測量分辨率≤2.5μm
（18）非接觸式光學(xué)系統(tǒng)具備沿曲面表面法向自由轉(zhuǎn)角功能，轉(zhuǎn)角的步距角≤0.01°
（19）非接觸光學(xué)掃描系統(tǒng)測量須符合ISO10360-7標準。
更多要求詳見招標文件。
2.4交貨期：合同簽訂生效后4個月。