重慶大學高分辨全電動體視顯微成像系統等采購
（包4：納米粒度及Zeta位分析儀）
更正公告
（一）

一、項目基本情況
原公告的采購項目編號：CQU-SS-HW-2025-158
原公告的采購項目名稱：重慶大學高分辨全電動體視顯微成像系統等采購
首次公告日期：2025年10月23日

二、更正信息
更正事項：采購文件
更正內容：

（一）招標文件第二篇 項目技術（質量）需求“
（一）技術參數”“包4：納米粒度及Zeta位分析儀”技術參數內容有調整，現調整為如下內容：
包4：納米粒度及Zeta位分析儀
1.檢查系統：
※1.1 激光器：二極管固體激光器，波長≥532 nm；
※1.2 功率≥10 mW；
1.3 檢測器：光電倍增管（PMT），非雪崩式二極管（APD）；
▲1.4 溫度控制范圍不低于-5-110℃, 精度：≤±0.1℃；
1.5 在線測試功能：包含在線實時測試和實驗室離線測試兩種測量模式；
2. Zeta 電位測量部分：
2.1 測量方法：激光多普勒電泳法或者使用 PALS 相位分析技術，提供原始相位譜圖；
※2.2 電泳測量適用粒度范圍不低于0.002-100 μm；
2.3 電導率范圍不低于30 S/m；
※2.4 Zeta電位測量范圍不低于-500 mV - +500 mV；
▲2.5 電泳遷移率范圍不低于10-11-10-7 m2 /V.s；
2.6 pH 值測量范圍不低于1-14；
▲2.7 樣品池：具備標準樣品池或耐腐蝕玻璃樣品池可選，可應對無機相、有機相等不同類型樣品；
※2.8 Zeta 電位測試模式下能測量所有類型樣品（有機相、高鹽濃度樣品）的Zeta電位，無電滲運動影響；
▲2.9 電極為永久型鈀電極或者石墨電極；可清潔重復使用，減少耗材的使用；
2.10 本機可升級膜表面電位測量功能，用于測量固體表面Zeta電位（提供同一臺主機可測試膜表面電位的功能硬件圖片及技術說明證明材料，并加蓋投標人公章）。
3. 粒度測量部分：
※3.1 標配 3 個檢測角度：15±2°, 90°及 173°，需配置透光檢測器檢測樣品透光率；
3.2 粒徑測量原理：動態光散射法，具有動態光散射，多角度動態光散射，背向動態光散射三種模式；
▲3.3 測量準確度：±2%以內（NIST 100nm聚苯乙烯標準顆粒）；
▲3.4 粒度測量范圍不低于0.3 nm-10 μm；
▲3.5 濃度范圍不低于0.1 ppm 至 40% w/v；
3.6 樣品體積范圍不低于3 uL-3 ml；
▲3.7 分子量范圍不低于 600-2*107 Dalton；
3.8 相關器：≥4*1000 線性通道，支持互相關測量，支持 4 路信號輸入。